課程資訊
課程名稱
 積體電路系統測試
Vlsi System Testing 
開課學期
 100-2 
授課對象
 電機資訊學院  電子工程學研究所  
授課教師
 黃俊郎 
課號
 EEE5011 
課程識別碼
 943 U0110 
班次
  
學分
 3 
全/半年
 半年 
必/選修
 選修 
上課時間
 星期四6,7,8(13:20~16:20) 
上課地點
 博理214 
備註
 總人數上限：30人 
Ceiba 課程網頁
 http://ceiba.ntu.edu.tw/1002_SysTesting 
課程簡介影片
 
核心能力關聯
 核心能力與課程規劃關聯圖
課程大綱
為確保您我的權利,請尊重智慧財產權及不得非法影印
課程概述

1. VLSI測試概論
2. 錯誤模型與模擬
3. 內建自我測試
4. 記憶體測試
5. ADC/DAC測試
6. 高速串列I/O測試 

課程目標
 本課程介紹積體電路系統測試之觀念及技術，內容包含可測試性設計（Design-for-Test）、內建自我測試（Built-In Self-Test）、記憶體測試、類比/混模電路測試及系統晶片測試技術，適合對VLSI設計與測試有興趣的同學修習。 
課程要求
 1. 預修課程: 邏輯電路設計、電子學

2. 除了上課外，修課學生必須於閱讀指定的論文或文件並進行報告。

3. 修課學生需完成指定的專題作業。 
預期每週課後學習時數
  
Office Hours
  
指定閱讀
  
參考書目
 L.T. Wang, C.W. Wu, and X. Wen, VLSI Test Principles and Architectures, Morgan Kaufmann Publishers, 2006.
M.L. Bushnell and V.D. Agrawal, Essentials of Electronic Testing, Kluwer Academic Publishers, 2000.
M. Burns and G. W. Roberts, An Introduction to Mixed-Signal IC Test and Measurement, Oxford University Press, 2001.

 
評量方式
(僅供參考)
  
No.
項目
百分比
說明
1. 
 homework 
30% 
  
2. 
 presentation + quiz 
40% 
  
3. 
 project 
30% 
  
 
課程進度
週次
日期
單元主題
第1週
 2/23  01 Introduction 
第2週
 3/01  01 Introduction - cont'd<br>
02 Design for Test 
第3週
 3/08  03 Logic BIST 
第4週
 3/15  Presentation & Quiz (RA01 & RA02)<br>
03 Logic BIST (cont'd) 
第5週
 3/22  04 Memory Testing 
第6週
 3/29  04 Memory Testing (cont'd) 
第7週
 4/05  溫書假 
第8週
 4/12  04 Memory Testing (cont'd) <br>
Presentation & Quiz (RA04) 
第9週
 4/19  Memory Testing (cont'd) <br>
Presentation & Quiz (RA03) 
第10週
 4/27  （補4/26上課）<br>
Memory Testing (cont'd) 
第11週
 5/03  Presentation & Quiz (RA05 & RA06)<br>
05 Coherent Sampling 
第12週
 5/10  05 Coherent Sampling (cont'd)<br>
06 Static ADC/DAC Testing 
第13週
 5/17  06 Static ADC/DAC Testing (cont'd) 
第14週
 5/24  07 AMS Testing 
第15週
 5/31  07 AMS Testing (cont'd) 
第16週
 6/07  07 AMS Testing (cont'd)<br>
08 High-Speed I/O Testing 
第18週
 6/21  專題計畫報告